ELEC6437P

微纳器件测试基础

Fundamentals of micro and nano device testing

研究生研究生课程基础理论实验课

课程

2026年春季学期

徐光伟 (Xu Guang Wei), 陈涛 (Chen Tao)

校区: 高新区容量: 34 / 40

学期	班级代码	教师	校区	容量
2026年春季学期	ELEC6437P.01	徐光伟 (Xu Guang Wei), 陈涛 (Chen Tao)	高新区	34 / 40